高總線速率和存儲(chǔ)速率的大系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)

面對(duì)測(cè)試部件的結(jié)構(gòu)復(fù)雜化，需要布置更多的測(cè)點(diǎn)用以獲取詳細(xì)的數(shù)據(jù)參數(shù)。尤其對(duì) 于大型發(fā)動(dòng)機(jī)、大型液壓控制系統(tǒng)、大型風(fēng)洞以及大型振動(dòng)臺(tái)等測(cè)試，通常需要較多的測(cè) 試通道用以組建測(cè)試平臺(tái)。此時(shí)我們需要保證測(cè)試數(shù)據(jù)在大通道、高采樣率下可靠存儲(chǔ)， 而傳統(tǒng)的 RS 總線、PCI 總線等形式，并無(wú)法保證在此種測(cè)試工況下正常存儲(chǔ)。因此通常情 況下，傳統(tǒng)總線的解決方式為：減少單臺(tái)設(shè)備通道數(shù)，以減少流盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 傳統(tǒng)總線弊端： 需要很多測(cè)試設(shè)備組網(wǎng)進(jìn)行，同步性是否得以保證？ 多臺(tái)設(shè)備數(shù)據(jù)存儲(chǔ)是否完整？ 數(shù)據(jù)無(wú)法匯總，數(shù)據(jù)處理文件數(shù)較多。

德維創(chuàng) PXI/E 總線優(yōu)勢(shì)： 基于 PXI/E 的 AD 板卡，可保障單卡數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá) 200MB/S，而德維創(chuàng)的 DEWE3 系列機(jī)箱的存儲(chǔ)方式同樣進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，其數(shù)據(jù)存儲(chǔ)速率可以達(dá)到 1GB/s，這也 是為什么 DEWETRON 的機(jī)箱可以做到單臺(tái) 128 通道，并實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。

大型測(cè)試平臺(tái)

在前面的論述中我們提到，在面對(duì)大型發(fā)動(dòng)機(jī)、大型液壓控制系統(tǒng)、大型風(fēng)洞以及大 型振動(dòng)臺(tái)等測(cè)試任務(wù)時(shí)，由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測(cè)點(diǎn)較多、傳感器類型復(fù)雜，大型測(cè)試平臺(tái)的建 設(shè)將逐漸增多，以應(yīng)對(duì)不同型號(hào)產(chǎn)品、不同測(cè)試任務(wù)的測(cè)試工作。 大型測(cè)試平臺(tái)特點(diǎn)：

① 設(shè)備支持信號(hào)多樣化； 

② 數(shù)據(jù)傳輸、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)可靠；

③ 通道數(shù)量較多； 

④ 多臺(tái)設(shè)備可以組網(wǎng)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸； 

⑤ 通道間同步性高，可以保障時(shí)統(tǒng)信號(hào)統(tǒng)一和測(cè)試信號(hào)相位 

基于文章前面部分的功能描述，DEWETRON 設(shè)備可以滿足大型測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試需求， 并在實(shí)際測(cè)試中取得穩(wěn)定可靠的表現(xiàn)。